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MVG将参与2014 北京EDI CON会议

2014-04-28 来源:微波射频网 我要评论(0) 字号:

作为全球天线测量行业专家,法国MICROWAVE VISION GROUP (MVG) 将参加于4月8至10日,在北京国际会议中心举行的2014电子设计创新会议。

我们将通过MIMO OTA无线测试研讨会演讲、主题鲜明的展台、射频安全监测仪器及新一代SAR测量设备现场演示等多样的形式,为广大用户及业内专家全面介绍MVG的天线测量测试技术和方案。

MIMO OTA 无线测试技术研讨会

我们诚挚邀请各位业界专业人士参加于4月9日早上8时30分开始,在大会203A会议室举办的以“MIMO OTA 无线测量 - WE103单元”为主题的研讨会,MVG亚太销售高级经理Calvin Chan 将会用中英文现场解说“基于电波暗室的MIMO OTA测量 —— 如何区分好与坏的2x2 MIMO天线系统”主题。

MVG展台

MVG的展台位于展会大厅410号,围绕无线测试和射频安全为主线,通过主题鲜明的展台,您将可更近距离的了解到MVG的MIMO测试系统,备受关注的明星产品便携式测量系统StarLab 以及MVG自主研发设计的Satimo无线通信天线以及高性能吸波材料。

最新仪器现场演示

鉴于中国无线通信行业的飞速发展,电磁场暴露水平对人体健康的潜在危害而引起的射频安全越来越受政府和社会的认识和关注。MVG旗下一个主要的产品路线:环境和工业监控(EIC)致力研发和生产射频安全监测和警报系统。 我们的技术人员欢迎您到现场与我们面对面的沟通和交流,根据您的要求,我们将现场演示最新推出的超快速SAR (特定吸收率 ) 测量设备SARLite, EME Guard XS及EME Guard个人射频安全监测警报仪以及预防雷达天线辐射污染的监测警报系统FlashRad。

MVG期待您和我们一起参加EDI CON这个一年一度的行业盛会!