LTE性能测试之—验证MIMO终端的OTA测试解决方案

2013-10-11 来源:微波射频网 我要评论(0) 字号:
主题活动: LTE测试  Anite
主办单位: Anite(英国安耐特通讯有限公司北京代表处)
举办时间: 2013-10-29
举办地址: 在线研讨会
关注次数: 0
报名网站: https://www1.gotomeeting.com/register/188626880
LTE性能测试之—验证MIMO终端的OTA测试解决方案

活动介绍

全球各地对LTE技术的开发不断加快。人口稠密的国家如中国、印度等已经开始大规模部署LTE网络了。复杂的无线产品如MIMO(多天线)设备,对性能测试提出了更高的技术要求。运营商、芯片厂商、终端设备厂商都需要更全面的性能测试来确保交付的产品和服务能满足预期质量。

本场研讨会,Anite 将解析LTE 性能测试中的主要挑战并介绍Anite基于Propsim系列信道仿真仪平台的MIMO 终端的OTA性能测试解决方案。听众可以增强对MIMO OTA(Over-the-Air)测试的理解,了解如何将MIMO OTA 测试应用于MIMO 终端性能测试。

研讨会上Anite将分享多个商用无线终端设备的测试结果,这些测试基于接近真实情况的空间信道模型开展,测试环境和测试结果都可任意定义、可重复。

演讲嘉宾:Anite亚太区业务拓展总监Gao Yu 博士,Anite信道仿真仪产品专家杨怀志博士。演讲以中文进行,PPT展示内容为英文。

研讨会内容概要:
• 4G LTE设备的性能测试
• MIMO OTA测试的主要挑战
• MIMO OTA测试的原则
• 基于信道仿真模型的测试案例
• Anite 的Propsim OTA测试工具
• MIMO 设备的性能测试结果

日期时间:2013年10月29日,周二,下午2:00 - 3:00

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