安立全面的LTE测试方案满足未来智能手机的测试需求

2013-05-20 22:07:17 我要评论(0) 字号：大中小

LTE正在全球范围内快速发展，LTE终端数量呈现爆发式增长。除了LTE，智能手机及移动终端需同时支持3G WCDMA、CDMA2000® 1x/1x EVDO、TD-SCDMA技术，还包括支持3.5G WCDMA/HSPA和TD-SCDMA/HSPA，以及2G GSM/(E)GPRS等。

贾国栋演讲安立全面的LTE测试方案满足未来智能手机的测试需求

现场提问交流

LTE与2G/3G的多模信令测试，功能测试，性能测试，功耗测试，以及高速度的校准和射频测试是当前终端研发测试的热点和难点。如何缩短研发测试时间，降低测试成本，加快终端上市速度，是终端厂家非常关注的问题。

在本次研讨会上安立公司高级工程师贾国栋带来了LTE多模智能终端的测试解决方案，涵盖了从研发到生产、从协议到射频等各个阶段的支持，并得到了广泛的应用。

主要内容：

• 安立公司介绍
• LTE发展现况和未来
• 安立LTE终端测试方案
• 射频研发测试
• 射频一致性测试
• 生产制造测试
• 协议/应用测试
• LTE多模终端测试方案总结

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