中科泛华测控陈强 分享PXI平台以及射频测试发展趋势

2013-06-26 11:38:36 我要评论(0) 字号:

由微波射频网(MWRF.NET)主办的2013高频电路及系统技术研讨会于6月21日在成都世纪城新国际会展中心成功召开。西部地区服务微波射频领域主要的研究所、科研单位、厂商、高校的近180名微波工程师、雷达工程师以及即将毕业的研究生参与了本次研讨会。

无线电波极大的拓展了人们触觉视觉等各种观察世界的感知能力和相互交流的能力,在肉眼看不到的世界里进行的测试有着更形象的要求,测试,我们有什么样的技术呢?

中科泛华测控高级工程师陈强

来自中科泛华测控高级工程师陈强为研讨会带来主题为“高频通信与雷达测试解决方案”精彩演讲。

陈强与观众从分享了PXI平台以及射频测试未来发展趋势:

1.PXI平台在RF及微波测试领域中广泛应用;
2.PXI VSA&VSG产品正在逐步完善;
3.小型化、规模化、开放化是RF测试的未来;

中科泛华测控高级工程师陈强与用户交流

如您需了解更多信息 ,请查看会议专题网站:http://www.mwrf.net/html/special/2013cdmw/

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