安立为VectorStar® VNA系列的O/E校准模块增添双波长测量功能

2015-11-25 来源:微波射频网 字号:

新选件允许MN4765B 系列与MS4640B VNA 结合使用,
以在波长为1310 nm 和1550 nm 时进行高达70 GHz 的精确光电测量

安立公司为MN4765B 系列O/E 校准模块推出两个选件,旨在针对光电组件(如调制器、光接收器和集成光收发模块)的特性提供高精度、高灵活性且具有成本效益的测量解决方案。有了这些新选件,MN4765B 即可与MS4640B VectorStar® 矢量网络分析仪(VNA) 系列结合使用,在波长为1310 nm 和1550 nm 时进行高达70 GHz 的光电测量。

安立为VectorStar® VNA系列的O/E校准模块增添双波长测量功能

选件71 允许MS4765B 与VectorStar VNA 结合使用,以在1310 nm 范围内进行70 kHz 到70 GHz 的光电测量,而选件72 可在波长为1310 nm 和1550 nm 时提供70 kHz 到70 GHz 的测量。两个选件均使用NIST 规定的典型光电二极管为基准,与其他替代方案相比,可实现更好的E/O 和O/E 测量精度。

MN4765B 模块与MS4640B VNA 结合使用,为光电测量提供一种简化方法,是当前使用的传统全系统方法的一种经济的替代选择。MN4765B 光模块设有可将调制光信号转化为电信号的InGaAs 光电二极管。该光电二极管对70 GHz 的带宽响应非常出色。该模块还融合了可实现温度和零偏稳定性的额外电路。

有了新波长选件,MN4765B O/E 校准模块即可用于双波长光电测量,以分析研发和制造中的元件。它还非常适用于正在探索双波长时高达70 GHz 调制率的大学和研究实验室。

VectorStar VNA 可在单次扫描频率为70 kHz 到20 GHz、40 GHz、50 GHz、70 GHz、110 GHz、145 GHz 及各种离散频带直至1.1 THz 的范围内提供更精确的测量。与市场上其他VNA 解决方案不同,VectorStar 系列建立在一个稳定的现代化平台上,该平台可轻松实现一系列功能和性能的升级。MS4640B VNA 系列性能优越,因此,器件建模工程师可准确可靠地分析其组件。研发工程师可获取其先进设计中的dB 最后分数,制造工程师可在不牺牲精度的情况下实现生产量最大化。

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