针对100G多通道光模块提供评估与降低制造成本的方案-100G BERTWave

2017-04-26 来源:微波射频网 字号:

安立公司(桥本裕一)发布新一代BERTWave MP2110A测试仪,专门针对100G多通道光模块的生产测试做了优化。

BERTWave MP2110A是一款可同时支持BER误码率测试与眼图分析的一体化仪表,可用于包括100 GbE, InfiniBand EDR, 32G Fibre Channel等光通信系统中所使用的光模块与光器件评估。

不仅仅是一体化设计缩减了仪器投资成本,而且高速采样缩短测量时间,高灵敏度的误差检测器性能提高了产量以帮助削减光模块和光器件的生产成本。

开发背景

积极增长的供应商带来新的独特在线服务带来了数据流量的激增。在提高数据中心系统的处理能力的同时,另一个关键问题是如何管理日益增加的成本。解决方法之一是在保持低成本的条件下将用于数据中心的光模块的比特吞吐率从10G提升到25G。

为满足以上需求,安立公司推出了一体化测试平台BERTWave MP2110A,内置误码测试仪BERT最多可支持四通道,采样示波器最多可支持二通道,可以对符合100 GbE标准如QSFP28及其他标准如InfiniBand EDR, 32G Fibre Channel的多通道光模块进行有效的评估。

BERTWave MP2110A概括

BERTWave MP2110A支持同时进行BER测量与眼图分析。不同于以往的测量环境要求两个单独的仪器来测量BER和分析眼图,只需要一台BERTWave MP2110A即可满足这些评估需求,以帮助减少仪表投资成本及节省设备占用空间。

此外,为了减少光模块与光器件产线上的生产时间,MP2110A最大采样速度提升到250 ksample/s,与其他测试仪表相比大缩减了大约75%的眼图分析时间。不仅如此,MP2110A支持扩展内置误码测试仪选件到4通道及达到最大28.2 Gbit/s,内置采样示波器扩展到2通道。因此,MP2110A可以同时执行多通道光模块如QSFP28的TRx BER误码率测量,及同时进行双通道眼图分析,与以前的测量系统相比最多可缩短65%测量时间。

此外,以–15 dBm的最小灵敏度(典型值, SMF),采样示波器光接口支持精确的被开关等衰减的信号的眼图分析。优良的PPG抖动性能600 fs rms(典型值)和25mV ED灵敏度(典型值)也支持测量比被测设备(DUT)更好的性能。

关键特性

一体化同时进行光模块与光器件的TRx测试
高速采样与高灵敏度光接口的采样示波器
内置低抖动、高灵敏度BERT支持到4通道
内置PC支持稳定操作

目标市场与应用

目标市场:100-Gbit/s 光收发模块(CFP2, QSFP28, SFP28, AOC有源光缆,DAC直连铜缆, etc.)及相关的器件与线缆的物理性能评估
目标应用:高速电器件、光器件、光模块制造
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