罗德与施瓦茨展示了用于5G设备辐射测量的黄金标准测试解决方案

2018-11-20 来源:微波射频网 我要评论(0) 字号:

罗德与施瓦茨 (R&S) 展示了一种创新的测试系统,该系统使用紧缩场(CATR)对在20 GHz至87 GHz范围内的5G毫米波设备上进行辐射测量。新解决方案将为5G RF工程师提供巨大优势,显著加快5G毫米波蜂窝设备的上市时间。

紧缩场(CATR)是设计和验证即将推出的5G智能手机,平板电脑和笔记本电脑的首选解决方案,这些设备将运行在新频段(FR2:24.250 GHz至52.600 GHz)。CATR测试系统采用间接远场技术(IFF),这种技术已经被3GPP采纳,而且是5G移动设备的认证测试方法,其中有源天线阵列是一种默认的设计。

有源天线阵列将天线,功率放大器和移相器集成在一个封装中,并且可以放置在PCB板上。有源天线阵列首次在蜂窝设备中实现了有源波束控制。 为了提供可靠的通信链路,多个有源天线阵列将分布在移动设备中(例如,在智能手机的边缘),并且在真实的移动设备中,它们在几毫秒内实现动态地打开和关闭。因此,足够大的测量区域非常重要,在移动设备转动以测试其所用方向性能的情况下,这个区域要覆盖整个设备。

罗德与施瓦茨展示了用于5G设备辐射测量的黄金标准测试解决方案

在第40届AMTA会议上首次公布测试解决方案

罗德与施瓦茨通过创新的测试解决方案解决了这一测试挑战。 它提供了无与伦比的测量区域- 静区- 直径达20厘米/7.8英寸,同时台面占地面积小于0.8平方米/8.6平方英尺,并且能够在测量过程中自动化旋转被测设备(DUT)。

罗德与施瓦茨于2018年11月4日至9日在弗吉尼亚州威廉斯堡举行的第40届AMTA会议上首次向公众展示了新的测试系统。

镀金反射面和超宽带馈电天线在幅度和相位方面保证了出色的静区均匀性,确保射频工程师在20 GHz至87 GHz范围内进行测量。 双极化馈电天线一次性测量水平和垂直极化,将测试时间缩短一半。 同时,配合高精度,全360度2D转台,可以以优于0.1度的分辨率进行辐射性能测量,确保较高的测试精度和可重复性。 通过使用R&S CONTEST序列软件或任何提供C / C ++ / C#/ VB.NET / MATLAB / Python和NI LabVIEW的扩展API库的任何第三方测试设备都可以实现测试自动化。

罗德与施瓦茨的全新CATR测试系统将于2018年12月开始供货。

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