安立将在DesignCon 2019展示的检验最新高速通信技术的测试方法

支持PCIe G3/G4和PAM4的解决方案将由全球测试领先者在卓越工程展上演示

安立公司将在美国加州圣克拉拉市于2019年1月29日到31日举办的DesignCon 2019大会上提供检验高速通信最新技术包括PCIe G3/G4 和PAM4的测试方案和技术。通过展台(#615)和技术会议的一系列展示，安立会成为负责检验数据中心和云网络新兴技术的芯片、电路板和系统设计工程师的卓越测试资源。

安立公司发言人说：“基于Web服务的爆炸性数据增长和5G的推出需要高速技术来满足关键性能指标和满足客户需求。在DesignCon 2019大会上, 安立将介绍其测试方案和关于工程师如何高效、自信地检验他们的设计会满足行业指标并为用户提供高质量体验的洞察力。”

安立进行的展示是PCIe G4接收链路均衡（LEQ）测试，包括安立的信号质量分析仪-R MP1900A BERT 和一台实时示波器以及作为被测设备（DUT）的新思科技（Synopsys）HAPS原型方案。展示中详细演示如何进行接收侧LEQ一致性测试的步骤及被测设备不满足指标时如何查找故障的建议。除了LEQ 测试以外，也进行G4 DUT的抖动容限测试。

新思科技高级市场经理Gary Ruggles说：“新思科技是PCIe G5和G4 IP的公认领先者。我们借助市场地位的优势开发了安立用于展示前沿技术的HAPS原型方案，有助于保证新兴应用中高速互联和系统的后续开发。”

同时，也会展示安立处于领先地位的400GbE 测试方案。集成了MP1900A和BERTWave™MP2110A的一体化测试装置以及TE Connectivity QSFP-DD 高速连接器和电缆套件的测试平台进行PAM4 发送侧和接收侧测试。展示突显TE Connectivity方案性能的同时也演示了安立执行400GbE器件和系统高精度和高重复性测试的能力。

TE Connectivity 市场部的OIF副总裁，技术专家Nathan Tracy 说：“当今的400GbE模块可以灵活地满足以太网生态系统中的各种需求和环境，其目标是一系列应用之间数据的大规模汇聚。正如我们和安立一起演示所显示的那样，TE处于与行业领先者一起开发解决方案的前沿，以实现最快的速度和最佳的性能。”

免费培训和研讨会

与新思科技HAPS原型方案一起的PCIe G4 接收侧LEQ 展示也是安立将于1月31日星期四在圣克拉拉会议中心，大美洲2号房间举办的技术会议的一部分，演示之前将进行一次题为PCIe G3/G4 TX/RX一致性测试和为G5做好准备的会议，上午10:05开始，并将与美国力科一起举行。

安立工程师也将举办专注于PAM4的研讨会，内容包括64Gbaud PAM4 信号产生和32 Gbaud PAM4 比特误码率和抖动容限测试。重点是200G/400G PAM4信号和器件的比特误码率分析和接收侧抖动容限测试以确保它们符合高速标准(IEEE802.3, OIF-CEI, IBTA)。然后举办一个名为‘32Gbaud PAM4 BER 和JTOL 测试现场演示(每路64Gbps)’的现场展示，包括MP1900A的32Gbaud PAM4 BERT 测试和53Gbps PAM4数据信号的抖动/噪声容限测试能力。

高速测试解决方案

安立展台同时也会展出用于检验高速芯片、模块和系统的其他测试仪表，其中就有带来前所未有的价值和性能的解决方案Shockline™500 系列4端口矢量网络分析仪(VNAs), 一体化传输测试仪Network Master™Flex MT1100A 和VectorStar™MS4647B 4端口VNA。