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半导体并行测试设备演示系统

发布时间:2014-06-14视频时长:04:40我要评论(0)
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主题视频: NI  半导体测试

视频简介

NI应用工程师 钱科威

本视频主要介绍NI半导体并行测试设备演示系统,在这个演示系统中通过NI PXI平台的模块化仪器,实现对ADI公司数模转换芯片AD9786的参数测试及性能验证,并结合NI TestStand测试管理软件,完成4片DAC的并行测试。

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