资料语言: | 简体中文 |
资料类别: | PDF文档 |
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更新时间: | 2015-06-10 16:17:14 |
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本文档为“微带传输线无源互调(PIM)测试可重复性”技术讲座讲义。
对于天线设计者,了解多频通信系统中无源互调失真的影响因素是一个有趣的问题。随着通信天线结构日益复杂,覆铜层压板上制作微带电路正在取代某些金属设计。PIM失真是电路或系统的特性,而不是材料的特性。PIM取决于总体的设计,连接器、局部功率密度等因素都会对其产生影响。层压板的基本参数加工流程也会影响PIM。此次讨论中,我们将讨论微带传输线的PIM测量和相关的层压板特性,比如铜箔粗糙度。我们也将讨论电路加工、层压板厚度和功率水平等因素对PIM的影响。由于所研究的功率值很小,所以了解各个因素对PIM的影响是很复杂的。此外,本次讨论也包括对测量中必须关注的统计分析的介绍。
内容提纲:
1)什么是PIM?
2)IEC中的PIM标准
3)反射与直通PIM
4)罗杰斯公司的PIM测试的描述
5)PIM测试的可重复性与统计结论
6)板材加工中的PIM影响观测与实验
视频讲座网址:http://webinar.mwrf.net/2015/12.html
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