Cascade射频探针台测试简介

2014-08-20 我要评论(0) 字号:
主题资源: 射频探针
资料语言: 简体中文
资料类别: PDF文档
文件大小: 1.18MB
浏览次数: 0
所需积分: 0 点
评论等级:
更新时间: 2014-08-20 23:13:02
上传用户: qizu
下载地址: 立即下载
Cascade射频探针台测试简介

资料简介

Cascade Microtech 公司是包括集成电路 (IC)、芯片、电路板、模块、MEMS、3D TSV、LED 器件等在内的先进半导体器件的精密电气测量及测试领域中的全球领导者。我们的工程用探针台和分析用探针广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发,旨在确保质量及可靠性,并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。我们最先进的量产用测试产品包括独特的探针卡、测试插座和 ATE 接触器,可降低高速及高密度半导体芯片的制造成本。

在我们已有的 800 家客户当中,网罗了全球 20 家销售收入最大的半导体制造商。这些客户采用我们的产品来进行众多器件的工程和量产测试,包括数字信号处理器、电信芯片、高级存储器芯片、微处理器、微控制器、图形处理器和专用集成电路的测试。我们所提供的精密测量能力使得全世界的半导体公司都能够跟上摩尔定律,并以更快的速度和更低的价格向市场投放其产品。

Cascade Microtech 公司源自于 Eric Strid 和 Reed Gleason 在 1983 年开发第一个微波晶圆探针时的合作。在 1983 年以前,对于某款特定设计之所以奏效的原因,高速 IC 的设计人员只能够进行推测。当时无法在晶圆级上对这些微波电路的实际电气性能进行测量。通过运用 Cascade Microtech 革新性的晶圆上探测解决方案,在 IC 被切割和封装之前,设计工程师们就可以在晶圆级上进行电路的实际测试及特性分析。这实现了研发时间的减半,并降低了开发新型芯片的巨额成本。自此之后,Cascade Microtech 的晶圆上探测技术便成为了一项业界标准。

温馨提示:如果您在下载过程中遇到任何问题,可以通过QQ技术群联系我们。

下载地址

更多信息,进入无线射频测试、微波测量专栏

相关资源