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网站首页 > 资料查询 > 白皮书/应用笔记 > 测试测量
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  • 测量技巧--使用 Agilent 53230A计数器测量和分析抖动的低成本解决方案

    测量技巧--使用 Agilent 53230A计数器测量和分析抖动的低成本解决方案

    在数据恢复时,时钟信号沿和数据流比特的关系是实现无错码恢复的关键。在理想情况下。恢复开始时的时钟沿应处于数据比特的中心位置。

    更新时间:2013-04-08
    星级:
    大小:1.45MB
  • 安捷伦使用光波元器件分析仪进行光电元器件的晶圆上测试

    安捷伦使用光波元器件分析仪进行光电元器件的晶圆上测试

    当在晶圆上执行光电元器件的测量时(例如器件处理的早期阶段,或者需要被测件电子接口的精确相位信息的平衡操作中),为器件夹具和电缆提供全面参考而将电光校准参考平面精...

    更新时间:2013-04-08
    星级:
    大小:1.78MB
  • 安捷伦和学术机构-教学实验室电子测量解决方案

    安捷伦和学术机构-教学实验室电子测量解决方案

    作为全球领先的测试与测量公司,安捷伦与世界各地的工程师、科学家和研究人员紧密合作,应对通信、电子、生命科学和化学分析行业在现在和未来所面临的挑战。

    更新时间:2013-04-07
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  • 安捷伦81150A脉冲函数任意噪声发生器应用

    安捷伦81150A脉冲函数任意噪声发生器应用

    Agilent 81150A 和 81160A 脉冲函数任意噪声发生器的主要客户群是制造、研发和教育等多个领域中的工程师。

    更新时间:2013-04-07
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  • 安捷伦多端口和平衡器件测试解决方案

    安捷伦多端口和平衡器件测试解决方案

    许多无线通信和宽带元器件都带有四个甚至更多个端口。这些元器件需要多次与网络分析仪进行连接,才能进行完整的性能表征。

    更新时间:2013-04-07
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  • 安捷伦利用外置、低噪声分频器改善 E8663B 250 MHz 以下的相位噪声特性

    安捷伦利用外置、低噪声分频器改善 E8663B 250 MHz 以下的相位噪声特性

    E8663B 模拟信号发生器连同E8257D (配有适当的选件),可以在高达3 GHz的频率上为同轴设备提供优异的信号功率、分辨率、稳定性以及模拟调制性能。

    更新时间:2013-04-07
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  • 安捷伦全新八通道信号分析系统完美应对TD-LTE双流波束赋形测试挑战

    安捷伦全新八通道信号分析系统完美应对TD-LTE双流波束赋形测试挑战

    双流波束赋形概念在 3GPP Release9 的 LTE 标准中提出来,同时也是 TD-LTE 标准中最为重要的关键技术之一。

    更新时间:2013-04-07
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  • IEEE 802.16-2004 WiMAX 物理层工作与测量 应用指南

    IEEE 802.16-2004 WiMAX 物理层工作与测量 应用指南

    802.16-2004标准描述了四种不同的空中接口。其中一种接口标准是针对NLOS,RF频率小于11GHz和距离达到30km的无线通信而优化的。虽然标准把这一物理层正式命名为 WirelessMA...

    更新时间:2013-04-03
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  • AMDS基于全波电磁场仿真技术的完整天线仿真和设计系统

    AMDS基于全波电磁场仿真技术的完整天线仿真和设计系统

    安捷伦推出天线仿真设计系统(AMDS),一种用于天线和天线系统的三维(3D)专用建模和仿真工具。

    更新时间:2013-04-03
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  • Agilent使用一个测试平台测试多种无线连接技术

    Agilent使用一个测试平台测试多种无线连接技术

    我们变得每天都更依赖于无线系统—从巨大的通信卫星到微小的射频识别标签;从全球蜂窝网到为我们提供新闻、娱乐、个人信息和其他资讯的手持式移动装置。

    更新时间:2013-04-03
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