MVG研讨会：探讨MIMO OTA测试的技术研究

随着无线应用技术的发展和物联网的普及，微波和射频市场愈发充满活力。作为中国最重要的无线技术研讨会，IWS 2015（第三届IEEE MTT-S 国际无线会议）将于3月30日至4月1日在深圳大中华喜来登酒店召开。在本届IWS 期间，全球微波测量行业专家、法国Microwave Vision Group（MVG）将于首日举办主题为“在复杂的射频环境下对无线设备进行MIMO OTA 测试”的技术研讨会，其技术专家团队将分享空中有源天线测量的高端技术研究与最新成果，以及关于CTIA2015 最新的MIMO OTA 测试协议草案动态。

近年来，无线、微波及射频产品的影响力不断增大，中国无线测量市场对于产品的要求和期望处于不断变化中。与此同时，技术演进势必不断催生对测试测量技术的需求。

3月30日下午2时，MVG 应用技术高级主管Nicolas Gross 及特邀演讲嘉宾Anite 公司亚太区高级经理杨怀志将在研讨会上发表主题演讲，引导与会者通过相关的功能和细节剖析基于电波暗室的MIMO OTA 测试方法。此外，技术专家团队还将对MVG 的专利技术-- 常规自动校准技术进行重点分析和测试方法比较，并邀请安耐特电信公司发言人对空间衰落模拟器设备和复杂射频环境下建模进行介绍。

MVG 亚太区商务高级经理陈国荣（Calvin Chan）表示，今年是MVG 第二次在IWS 期间举办研讨会，参会者可以通过在线报名的方式，申请MVG MIMO 测试研讨会VIP 名额（在线报名地址：http://www.mwrf.net/brand/mvg/about/2015/16623.html），提前获得CTIA2015 最新的MIMO OTA 测试协议草案动态，并作为特邀嘉宾全程与MIMO 技术专家探讨OTA 测试的技术研究。

除参与研讨会和技术讲座外，MVG 还将围绕无线天线测量主题搭建展区，展示其相关的代表性产品和技术，如测试5G 及WiGig 技术频率范围的MicroLab 系统、用于天线方向图测量的StarLab 系统、高效端对端测试MIMO 的设备StarMIMO，以及电磁辐射安全监控系统 FlashRad 等。

技术从来都是先行者，随着无线测量市场的不断发展和变化，MVG 期待于2015 IWS 研讨会期间，与同行及合作伙伴进行充分交流，共同促进天线测试测量行业的发展。