SGS选择思博伦测试LTE设备性能

2011-08-29 来源:微波射频网 字号:

思博伦8100系统在SGS新试验室中承担重任

2011年8月24日:领先测试认证公司SGS电气电子公司选择思博伦通信的移动测试设备,用于其设在新泽西州的Basking Ridge新试验室。Basking Ridge试验室将与一家主要无线网络运营商合作,提供3G/LTE设备测试支持。思博伦的8100移动设备测试系统将用于测试为美国市场研制的CDMA/EV-DO、LTE和多模移动设备。

SGS全球无线经理Michael Spitzer说:“思博伦的自动化系统使我们可以在一个平台上进行多种测试。除了测试基本的移动设备性能外,我们还将用该系统测试多个特定领域的性能。这种测试帮助运营商确保高质量、无问题的蜂窝服务。”

思博伦8100测试解决方案执行射频(RF)性能测试、多种数据性能测试和异系统切换(IRAT)测试。IRAT测试用于检验移动用户在LTE与3G服务区之间移动时的性能。该测试平台可以进行扩展,测试集成的定位技术(包括GPS)等其它设备特性。

思博伦通信产品营销副总裁Hesham ElHamahmy说:“看到长期的老客户向我们寻求解决方案始终是一件令人高兴的事情。自SGS多年前在圣地亚哥设立试验室起,我们就一直与他们合作。我们期待为SGS的持续发展和不断成功提供支持。”

更多关于思博伦通信LTE移动设备测试解决方案的信息,请访问http://www.spirent.cn/Devices-and-Equipment/LTE_devices.aspx.

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