安捷伦发布《LTE与4G无线技术演进发展:设计与测量挑战》技术专书

2013-03-18 来源:微波射频网 字号:

安捷伦科技(Agilent Technologies Inc.)在2月25日于西班牙巴塞罗那举办的全球移动通讯大会(Mobile World Congress)中发布第二版的《LTE演进到4G无线技术:设计和测量挑战》技术专书。新版本加入了LTE-Advanced章节,并深入探讨3GPP LTE蜂窝式技术,以及随之而来的设计和测试挑战。

第二版专书由40位作者合著,全书厚达648页(Wiley公司出版),内容涵盖有关LTE和LTE-Advanced标准的技术新知与实作知识。安捷伦内部多位工程师根据他们日常在实验室和LTE标准委员会中负责开发的技术来撰写全书。

该版本加入了最新的3GPP第11版标准的更新内容,并针对未来的第12版标准提供独特的见解。书中还提供物理层和更高层信令、MIMO,以及先进接收器和发射器性能测试的详细信息,并且深入探讨新的功能测试以及最新的射频和信令相符性测试相关内容。另有一个单独章节阐述非信令制造测试的细节。

Moray Rumney是本书的技术编辑,他毕业于英国爱丁堡Heriot-Watt大学,取得电子学士学位后,于1984年加入惠普(HP)/安捷伦科技。Rumney在1991年和1999年分别参加欧洲电信标准协会和3GPP组织,对于GSM和UMTS型式认证测试的发展贡献卓著。目前,他代表安捷伦参加3GPP RAN WG4会议,以协助推动HSPA+和LTE-Advanced无线接口的开发。Rumney近期的工作重心是开发MIMO OTA测试方法,他发表过许多有关蜂窝式通信技术的专文,并经常担任产业研讨会的主讲人与主席,同时也是IET会员与特许工程师。

《LTE与4G无线技术演进发展: 设计与测量挑战,第二版》现已可上网订购 。