多模扫频仪在LTE网络规划和优化中的运用

经典的传播模型具有良好的普遍适用性，但是对于具体传播环境下路径损耗的预测不够准确，而我国的传播环境具有自身的特点，与国外的环境有较大的差别。对经典传播模型进行校正，可以充分利用经典传播模型对损耗趋势预测准确的优点，克服其在具体环境下不够准确的不足。

常用的方法是通过车载测试，得到本地的路径损耗测试数据，然后通过拟和的方法，用这些数据对原始传播模型公式的各个系数项和地物因子进行校正，使得校正后公式的预测值和实测数据误差最小。这样，经过校正以后的传播模型路径损耗预测的准确性将大大提高，能较好地反映本地无线传播环境的特点[2]。而测试的方式，通常是配合发射机，采用扫频仪的CW测试模式。

CW测试模式：以很窄的带宽测量移动网络系统内可能规划的，所有频率的中心频点功率值，主要应用于传播模型校正测试和频率规划工作，可以通过评估各频率中心频点的能量值，核查测试区域内频率使用情况[3]。应用模式如下图所示：

3.2常规优化

进入网络建设的初期优化阶段，优化的首要对象就是覆盖，同时还包括干扰和邻区，这三大类问题贯穿于长期的网络优化工作中。对于优化阶段的数据测量，运用的是扫频仪最主要的一种测试方式，Top N测试模式。

Top N测试模式：通过解析网络制式内正常服务的小区的信息，分析网络无线环境中的覆盖、邻区和干扰问题，并通过数据统计和条件设定，给出问题小区的信息和问题路段的位置，以及问题占比、轨迹图、报表等内容，典型应用如ASPS的网络结构指数分析，现网中邻区关系分析和系统间的互操作问题，GSM的同邻频分析、TD-SCDMA的时隙干扰分析、TD-LTE的同模3分析等等。

覆盖分析

建网初期优化，覆盖类问题无疑是重中之重。同频组网的TD-LTE对覆盖要求非常严格，重叠覆盖度一旦过高，将直接引起严重的同频干扰和同模3干扰，严重影响RS-CINR，导致业务速率的急剧下降。如何在加大建站力度、扩大覆盖范围的同时，保证合理的网络结构就成为了摆在网优工程师面前的一大挑战。

在解决重叠覆盖这个问题上，使用扫频仪进行工程优化，是依靠扫频仪优异的同频解析能力（＞15dB），对覆盖道路进行盲扫，找出符合重叠覆盖定义门限条件的同频小区，分析和上报各小区的重叠覆盖度，同时还能上报引起重叠覆盖的冗余小区，为开展覆盖控制优化提供大量数据，方便网优工程师查找问题小区。

以下图为例，重叠覆盖度场强差门限设定为6dB。在初次路测时，红色区域内采样点重叠覆盖度为3，即符合与第一强小区场强差6dB范围内的小区数为3（含第一强）。

通过分析不难看出，该区域采样点内第二、第三强小区与第一强信号强度十分接近，在RSRP良好的情况下，由于重叠覆盖度高而导致CINR受影响，参考信号质量并非十分良好。如下图，通过软件自动生成的重叠覆盖度报告和冗余覆盖度报告，找出对重叠覆盖造成影响较大的小区，作为此次覆盖优化的重点。

根据冗余覆盖度报告找出问题小区，适当调整其方位角下倾角，有效控制这些问题小区的覆盖距离。同时，根据重叠覆盖度报告适当加强受影响的第一强小区的覆盖强度。优化后覆盖效果如下图：