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Roc(朱华朋)
昨天我们讲解了Vds电压测试注意事项,相比之下,开关管温度测试较为简单,但是只测量元器件表面温度还远远不够,因为元器件最大耐受温度都是基于内部晶圆定义的,因此我们还需要知道开关管工作时的损耗,然后从表面温度推算出晶圆的温度以判断该元器件是否能够使用,开关损耗的精确测量是电源行业的一大难点。
1、通道延时校准:
大家可以想象,这个时间延时将会对测试结果产生极大的影响,这也是示波器测量MOS管开关损耗最容易忽略的必要程序,如果没有事先做通道延迟校准,测量开关损耗没有任何意义。
特别是电流探头的归零和消磁 (电流探头发生过流,强磁场下使用过,或者长时间使用时,都要进行消磁以保证测试的准确性)
很多用户利用示波器测量MOS管开关损耗时,习惯于把电流探头放到更低电平的位置即MOSFET管的源极,因为MOSFET管开启关断电压是以源极为基准(Vgs),而电流探头测量时需要把PCB上铜箔断开然后串入一根更长的线,这根线引入的寄生电感极易造成Vgs电压振荡。
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