HIOKI（日置）发售阻抗分析仪IM7583、IM7585

在信息化的现在社会中，智能手机等移动设备通过LTE、Wi-Fi、GPS等，向高频化发展，而且该带宽达到了数GHz。随之，移动设备中所使用的高频感应器和铁氧体磁珠等电子元件也向高频化发展。这些电子元件从按照数百MHz到1GHz的高频来进行出厂检查，所以对于高频测量仪器的需求也日益增加。

HIOKI（日置）近日宣布，将发售阻抗分析仪IM7583和IM7585。这次将发售的2种机型，可以测量超过去年发售的IM7580（最高300MHz的高频测量）进行更高的频率测量。IM7583的测量频率是1MHz~600MHz，而IM7585是1MHz~1.3GHz，可以满足高频化的各种电子元件产品。

而且，IM7583、IM7585两种机型通过最短0.5ms（0.0005秒）的高速测量，能够快速的检查大量电子元件，从而提高电子元件厂商的生产效率。

主要用途

· 电子元件厂商的电子元件的出货检查
· 电子仪器厂家的电子元件的入库检查和特性评估

产品特点

1、IM7583最高600MHz、IM7585最高1.3GHz的高频测量

IM7583的测量频率是1MHz~600MHz，而IM7585是1MHz~1.3GHz。这大大的高于去年发售的IM7580的测量频率（1MHz~300MHz）。

单一频率测量的LCR测试仪的模式的话，可用于判断出货检查的合格与否，频率变化同时进行测量的阻抗分析仪的模式的话 ，产品开发的特性评估和其他领域中。

2、最快0.5ms的高速测量和高稳定性的测量，有助于提高生产效率

最快0.5ms（0.0005秒）的高速测量。这样，对于需要快速检查大量电子元件的电子元件厂商来说可以大幅提高生产效率。

而且，IM7585的反复测量精度是0.07%（1GHz时的代表值），因此实现了稳定测量，提高生产的成品率，从而提高生产效率。

3、主机尺寸小巧化，有助于降低生产成本

在电子元件厂商的生产线中，各种设备安装在机架中组成检查系统，并进行自动检查。因此，和去年发售的IM7580相同通过将将主机大小小型化，缩小检查系统的体积，并通过多台组合能够缩短检查时间，并降低生产成本。

4、各种各样的判断功能，判断合格与否

单一的频率测量的LCR测试仪的模式的话，具备判断电子元件的合格与否的比较器功能以及将电子元件排序的BIN功能。比较其功能克设置上下限值，并以此为判断标准来判断是否合格。相对于比较器功能的按照判断标准判断是否合格，BIN功能则能设置最多10种判断标准，并进行排名。

在多种频率下测量的分析仪的模式的话，包括从电子元件的频率特性中可判断合格与否的区间判断、峰值判断。区间判断是为了确认测量值是否进入任意设置的判断区域内的功能。峰值判断是判断共振点的功能。

另外，还全新搭载了任意设置多种频率，并按照这个设置值判断合格与否的目标判断功能。

基本参数

· 基本精度Z：0.65%rdg.θ：0.38（代表值）
· 测量时间 最短0.5ms（模拟测量时间）
· 测量范围100mΩ～5kΩ
· 测量频率IM7583：1MHz～600MHz　　IM7585：1MHz～1.3GHz
· 测量信号电平-40.0dBm～+1.0dBm（4mV～502mV）