安立采用机器学习优化5G UE毫米波3D EIS扫描测试时间

2023-02-06 来源:微波射频网 字号:

安立公司为无线通信测试平台MT8000A引入了新的“使用机器学习的EIS-CDF优化”MX800010A-026软件选件,该软件使用机器学习优化5G毫米波3D EIS扫描(EIS-CDF)测试时间。

无线通信测试平台(综测仪) MT8000A

开发背景

在北美和日本等发达经济体,提供更快连接的5G毫米波(FR2)服务的推出步伐正在加快。因此,毫米波UE的研发和一致性测试有望在未来成为活跃的市场。

3GPP标准规定了在空口(OTA)测试环境中对毫米波UE天线特性的3D测试。由于大量的测量点,3D测试需要花费较长的测试时间。

使用机器学习大大缩短了冗长的测试时间,这有望优化毫米波UE的测试效率。

产品功能

MX800010A-026软件选件通过自动学习UE天线特性以提高测试效率,支持使用安立的CATR暗室MA8172A进行3D EIS扫描测试。使用同一UE多次重复3D EIS扫描可优化测试效率。

机器学习将两个毫米波UE型号的测试时间从随后的学习重复中优化了大约35%到60%*。

机器学习将两个毫米波UE型号的测试时间从随后的学习重复中优化了大约35%到60%。

*这只是一个示例,但不能保证所有UE都有相同的结果。

产品概况

一体化MT8000A平台支持射频、协议和应用测试以及波束验证和波束特性评估。除了具有模拟开发5G芯片和UE所需的非独立组网(NSA)和独立组网(SA)基站功能外,MT8000A还支持所有5G FR1(600 MHz、2.5 GHz、3.5 GHz、4.5 GHz和6 GHz未授权)和FR2(24 GHz、28 GHz、39 GHz和43 GHz)频段。

CATR暗室MA8172A使用符合3GPP的紧缩场(CATR)方法在小空间内实现5G NR OTA测试。它可用于5G NR芯片和毫米波UE的开发和一致性测试。

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