爱德万测试平台获飞思卡尔采用 跨入MEMS测试市场

2013-05-10 来源:微波射频网 字号:

半导体测试设备厂爱德万测试宣布,其V93000 Smart Scale系统已获飞思卡尔采用,将在全球数个据点采用,此举意味爱德万测试成功跨入微机电系统(MEMS) 传感器测试市场。

爱德万指出,飞思卡尔除将在美国亚利桑那州坦佩市传感器与促动器解决方案部门工程技术中心采用V93000平台,亚洲制造厂也将开始采用此系统,进行新一代MEMS传感器生产测试。

爱德万表示,V93000内建主流MEMS分类处理机可搭配应用的驱动器,能在测试过程中与分类机讯号沟通,多年来飞思卡尔凭藉V93000平台,已创造许多优势,因此V93000系统已是飞思卡尔选择亚洲合作晶圆封测试代工厂之必备条件。

爱德万指出,V93000平台可广泛应用在多种半导体领域,从传感器到无线通讯元件均可适用,这套系统采per-pin架构,具高度准确性与高产能优点,有助客户快速量产、快速上市。

V93000平台受全球无晶圆厂半导体厂、晶圆封测试代工厂、整合元件制造厂青睐,多应用于研发制造下一代逻辑IC与高速记忆体。