通用测试认证级OTA测量暗室首次落户韩国

2016-06-21 来源:微波射频网 字号:

6月19日,通用测试(General Test Systems)完成了CTIA认证级OTA测量暗室——RayZone 3500在韩国自动化技术研究院(KATECH)的搭建,安装周期仅21天。

通用测试认证级OTA测量暗室首次落户韩国

这并不是通用测试的产品首次跨出大陆,近三年来,通用测试已经陆续进入台湾、美国(谷歌)、韩国等国际通信终端主流市场,并得到当地用户的认可。

通用测试认证级OTA测量暗室首次落户韩国

RayZone 3500是一款占地面积最小的CTIA认证级多探头测量系统,外部尺寸仅为3.6m× 2.1m× 3.7m,能够支持多种终端及通信制式的全波段测试。

RayZone 3500暗室采用具有自主知识产权的设计,将所有可能对测量产生干扰的组件安装在屏蔽体外,保证了纯净的电磁测量环境。整个系统的测量路径上均采用无源器件,避免了有源器件带来的不稳定性。测量天线采用非对称式安装方式,降低了天线之间的互扰,从而在满足认证要求的前提下最小化了系统体积。

此外,RayZone 3500 基于全新的睿测专利算法,全向灵敏度测量时间相对于传统方法提高了3到5倍,不仅支持CTIA OTA测量规范中的全部功能,而且兼容最新的辐射两阶段MIMO测量方法。同时,通用测试的软件开发团队基于RayZone 3500平台开发了自干扰,快速全频段扫描等新的测量功能。

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