致茂电子最新半导体测试解决方案 3月SEMICON China盛大展出

致茂电子为精密电子量测仪器、自动化测试系统、智慧制造系统与全方位Turnkey 测试及自动化解决方案领导厂商，将于3月SEMICON China 推出最新半导体测试解决方案，以因应IoT 晶片市场的蓬勃发展。

Chroma 3680 全方位高精度/高效能SoC 测试系统，拥有最高可达1Gbps 的资料速率(data rate)、平行测试更多待测物的能力及符合数位及类比IC 的测试应用需求。应用范围包含微控制器(MCU)、数位音讯(Digital Audio)、数位电视(Digital TV，DTV)、机顶盒(Set-Top Box)、数位信号处理器(DSP)、网路处理器(Network Processor)、现场可程式逻辑门阵列(Field Programmable Gate Array，FPGA) 及消费性电子IC 应用市场等测试方案。

Chroma 33010 PXIe Digital IO Card，Chroma 除提供传统之测试系统Chroma 3380D 256 通道与Chroma 3380P 512 通道外，也在今年正式提供自动测试系统(ATE) 功能PXIe 架构之DIO- Model 33010，符合PXI 测试方案发展应用之趋势及需求，以因应未来更小IC 通道及愈趋复杂功能之趋势，尤其在IoT 及汽车电子IC 测试上，PXI/PXIe 架构在半导体测试无论在应用多变和弹性上都有一定优势。应用范围包含微控制器(MCU)、微机电(MEMS) 、射频IC(RF IC) 及电源IC (PMIC) 等测试方案。  

Chroma 3260C 三温IC 测试分类机具备优异的温度性能表现，温度范围从-40摄氏度~125摄氏度，利用Nitro TEC 的技术，做到快速DTC 的功能；并可供多组Module Board 平行测试，1至6个测试座并可符合多种封装类型(QFP、TQFP、 μBGA、PGA 及CSP)。Chroma 3260C 可快速更换待测产品，大幅缩短停机时间，提高使用效率及产能。应用范围为车联网及云端相关概念产业IC 元件。

Chroma 3111 迷你桌上型单站测试分类机适用于工程实验阶段系统功能检测，同时具备终端电性测试能力，支援各种不同类型的封装晶片，晶片尺寸从5x5mm 到45x45mm。Chroma 3111 具备远端网路控制功能，透过软体设定JEDEC 料盘的分配及工程测试，在60cm²的空间发挥最大的效用以节省时间和成本。

Chroma 半导体测试设备整合MP5800 射频(RF) ATE 测试专用机，涵盖6GHz 测试范围，提供4/8 RF Port 及120MHz 频宽。应用范围包含WiFi/BT/GPS 等IoT 应用及RF 元件测试( PA/LNA/Converter 等)，达到RF/Digital 全方位ATE(CP/FT/SLT) 测试解决方案。

Chroma 半导体测试解决方案亦提供丰富的软体套件以符合不同测试应用。

2017 SEMICON China （3月14-16日），致茂电子将于上海新国际博览中心(SNIEC) (摊位号: 3635) 展出最新的半导体测试解决方案，我们诚挚的邀请您一同体验量测新趋势，期待在此年度盛会中与您见面。