安捷伦将在国际微波研讨会展示最新的微波射频设计与测试产品

安捷伦科技（Agilent Technologies Inc.）将于6月7-9日在美国巴尔的摩会议中心登场的2011年IEEE MTT-S国际微波研讨会(IMS) 中，展示旗下适用于先进微波与射频研发及制造的最新设计与测试产品。

安捷伦科技表示：“我们的设计与测试解决方案，为工程师提供他们在促进微波、射频和毫米波电子的研发与设计上所需的工具，已超过65年的时间。在IMS 2011中，我们将展示为现今最先进的应用所打造的尖端解决方案。”

安捷伦将于研讨会场展示下列产品技术

1.创新的设计工具：安捷伦SystemVue设计平台，提供对超宽频ARB和雷达应用的支援。安捷伦EMPro软件2011.07提供一模拟设计平台，可用于分析3D电磁效应。最新的突破性X参数*技术– 高频设计适用的新的非线性网络参数，以及ADS 2011的最新功能也在展示之列。

2.复杂、随时间改变的信号之波形分析与特性描述工具：这些工具将与宽频和微波测试解决方案，一起透过安捷伦的PXI和AXIe技术来展示。

3.宽频信号产生与分析解决方案：安捷伦将以旗下的宽频Agilent 81180任意波形产生器、具宽频IQ输入的PSG信号产生器，以及32 GHz 90000X示波器，来展示宽频雷达信号产生与模拟解决方案（用于分析雷达波形）。另外还将展示旗下的Agilent N9000A CXA，这是一款经济实惠的射频信号分析仪，包含IQ调变器、调变分析工具和追踪信号产生器，可执行达7 GHz的扫描测量。一并展示的还有安捷伦MXG信号产生器和Signal Studio软件，以及安捷伦PXA信号分析仪和89600B VSA软件，其构成了强大的信号产生与分析工具组合。

4.频率最高可到50 GHz的毫米波信号分析解决方案（外部混频可涵盖325 GHz以上的频率）：利用安捷伦PXA信号分析仪来展示，该仪器在毫米波频率下拥有无与伦比的性能表现。

5.非线性行为分析解决方案：安捷伦的非线性矢量网络分析仪和ADS先进设计系统，提供超越S参数的突破性X参数技术。

6.LTE-Advanced实体层测试解决方案：安捷伦的89600B VSA和X系列测量解决方案结合安捷伦的PXA，可为蜂窝式通讯和数字电视标准如LTE-Advanced、LTE-FDD和-TDD、W -CDMA/HSPA/HSPA+、DVB-PSA T/H和ISDB-T，提供完整、高性能的测试解决方案组合。

7.4端口，110-GHz毫米波VNA元件特性描述解决方案：安捷伦的PNA/PNA-X毫米波网络分析仪解决方案，只需连接一次就可对毫米波元件进行完整的特性描述，能显示10 MHz到110 GHz的宽频放大器之S参数、增益压缩与脉冲测量。
 
8.适用于超高速互连分析的16端口，67-GHz VNA解决方案：Agilent 67-GHz，16端口PLTS系统– 业界领先的信号完整性解决方案，按个键就能提供256笔S参数兼容性测试。

9.射频与微波现场测试解决方案：安捷伦将展示Agilent N9923A FieldFox射频矢量网络分析仪– 全球最准确的手持式VNA，拥有业界最佳的测量稳定度；Agilent N9912A – 全球整合度最高的七合一手持式测试仪器，适用于无线安装与维护作业；以及Agilent N9344C和Agilent N9343C手持式频谱分析仪– 两款为野外现场环境而打造（field-ready）的测试仪器，可供技术人员和工程师进行射频/微波系统的安装、维护与疑难排除，及作为频谱监测或干扰管理之用。

安捷伦还将展示一款低电压扫描式电子显微镜– 用于射频元件的奈米级显像，以及射频功率测量解决方案– 用于雷达脉冲测量分析。

安捷伦在IMS 2011所展示的产品技术，加上其销售伙伴所提供的解决方案，为出席贵宾提供了最创新的模型建立和元件特性描述、半导体晶圆代工、晶圆测试、电路板测量、原型制作工具、天线测量、系统、测试箱及客制化ATE解决方案。此外，安捷伦还将于活动期间举办多场技术计画和研习营，并参与MicroApps非线性特性描述专家论坛。