戈尔参加11月3日第六届上海微波技术论坛暨第六届国际微波及天线技术展览会IMEChina 2011

2011-11-02 来源:微波射频网 字号:

演讲主题: 戈尔高性能微波/射频测试电缆解决方案及应用
时间: 11月3日 上午 09:50 – 10:35
地点: 上海光大会展中心2楼11号会议室
演讲人: 黄炜 亚太区应用工程师
                   蒲华剑 中国区销售经理
(同期举办EMC/China 2011,上海光大会展中心 · 漕宝路78号/近漕宝路地铁)
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关于戈尔(Gore)
戈尔专为微波/射频和高速率数字测试设备设计的电缆组件,应用包括矢量网络分析仪、标量网络分析仪和其它高性能自动化测试设备。戈尔电缆设计创新,性能可靠,信号完整性优异,重复性好,高柔性,耐弯折,使用寿命长。

GORE VNA微波/射频测试组件为高达67GHz高性能测试设立了行业标准。GORE PHASEFLEX微波/射频测试组件是测试应用的高性价比解决方案。

典型应用

实验室测试
电磁兼容测试
矢量网络分析仪(VNA)
天线阵列
电波暗室
近场扫描仪
无线通信模块
手持分析仪
大批量RF器件生产测试环境等。

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