R&S与三星完成LTE-A上行载波聚合的测试与验证

2013-12-09 来源:微波射频网 字号:

日前,罗德与施瓦茨(Rohde & Schwarz)与三星(Samsung)率先完成R10上行载波聚合功能的测试与验证;三星的待测物为Samsung SHANNON300调制解调器芯片,通过已具备进阶长期演进计划(LTE-Advanced)测试能量的罗德与施瓦茨CMW500宽带无线通信测试仪对其待测物进行测试。

罗德与施瓦茨与三星成功的于实际设备上完成上行载波聚合的验证,实现LTE-A商用化的里程碑;三星的待测物为6.3英寸的终端设备,其支持两个传输通道并搭配单一SHANNON300基频芯片;因此SHANNON300为全球首颗LTE-Advanced特定应用集成电路(ASIC)芯片完成上行载波聚合的功能性验证。

商用设备配置两支接收传输天线截至目前为止仍是一个挑战,未来上行载波聚合及上行多重输入输出(MIMO)将面临无线互联网服务上行流量的严苛要求,例如多媒体云端上船服务。

罗德与施瓦茨CMW500为第一个测试平台同时提供R10于下行网络载波聚合的参考实作及验证实作进行LTE-FDD上行载波聚合测试,特别适合应用于行动设备产业,如芯片厂、终端设备制造商或实验室;支持LTE-A上行载波聚合的的芯片及终端设备即可通过罗德与施瓦茨CMW500进行通讯协议及效能测试。

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