NI通过FPGA提供灵活高效WLAN和低耗电蓝牙技术测试解决方案

新闻要点：

· 全新发布的针对802.11ac WLAN以及低耗电蓝牙（BLE）技术测试的NI解决方案集成了NI WLAN测量套件，基于FPGA的NI PXIe-5644R矢量信号收发仪（VST）以及NI LabVIEW，可以帮助搭建高性能、基于软件设计的测试系统。

· NI针对802.11ac WLAN和蓝牙的测试解决方案提供了业内领先的误差矢量幅度（EVM）测试性能，并且在生产测试的吞吐量上比传统的箱式测试仪器高出5倍。

2012年10月－ 美国国家仪器公司（National Instruments， 简称NI）近日发布了针对802.11ac WLAN以及低耗电蓝牙技术的测试解决方案，结合了NI图形化系统设计软件和基于FPGA的PXI模块化仪器，提供了可完全用户自定义的高性能测试能力。这些测试解决方案结合NI提供的包括手机测试、导航仪测试和无线连接测试在内的其他解决方案，可以有效地帮助工程师在一个单一的高性能平台上全面的测试他们的设备。

感言

“使用软件定义的矢量信号收发仪和WLAN测试套件，与传统的机架堆叠式测试仪器相比，我们提高了超过200倍的测试速度，同时还大大增加了测试项的覆盖率”Doug Johnson高通Atheros公司工程总监表示。

产品特性：

· 在256 QAM测试方面具有业内顶尖的-47dB RMS EVM，是产品测试和特性描述的理想选择
· 可以在NI PXIe-5644R VST的板载FPGA上实现测量和用户自定义的算法，能够完成快速的测量和实时的测试。
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关于NI
自1976年以来，美国国家仪器，简称一直致力于为工程师和科学家提供各种工具来提高效率、加速创新和探索。NI的图形化系统设计方法为工程界提供了集成式的软硬件平台，有助于加速测量和控制系统的开发。长期以来，NI一直期望并努力通过自身的技术来改善社会的发展，确保客户、员工、供应商及股东获得成功。