安捷伦展出32-Gb/s比特误码率测试仪

2013-03-15 来源:微波射频网 字号:

安捷伦科技公司(NYSE:A)日前宣布,在于1月29日至3 日在圣克拉拉会议中心举行DesignCon上展示具有快速上升时间和高输出幅度的32-Gb/s 比特误码率测试仪(展位201)。

数据中心基础设施的建设进入了新的阶段,它不仅支持云计算、大数据和分析,同时也是推动新型高速数据传输标准(例如100-Gb 以太网和32-Gb 光纤通道)开发的动力之一。高传输速度使光学和电气元器件设计人员面临着新的测试挑战。元器件表征必须满足更严苛的要求,意味着设计人员需要更快的上升/下降时间。光收发信机和发射机光组件(TOSA)要求使用更高的驱动电压,然而标准码型发生器的输出却无法提供。

为了解决这一问题,安捷伦提供可以外置的码型发生器前端,与N4960A BERT(比特误码率测试仪)搭配使用。新型码型发生器前端(N4951B 选件H32 和选件H17)具有改善的上升和下降时间(12 ps),可为ASIC 设计人员提供必要的设计裕量,以确保测试点上的信号保真度。

此外,新选件已将高压输出驱动程序集成到码型发生器。该特性允许光收发模块设计人员直接使用VCSEL、TOSA 和激光调制器,以用于要求更高数据速率的应用(包括100-Gb 以太网和OIF-CEI-28G),而无需使用外部驱动放大器以及相关的互连电缆和电源。

安捷伦副总裁兼数字光学测试部总经理Jürgen Beck 表示:“在广泛的BERT 解决方案中,安捷伦面向研发、验证和制造领域中的应用提供新的选择。每一款安捷伦BERT 均提供精确、可重复的测试结果,能够帮助工程师精确地表征仪器性能,同时确保仪器符合行业标准。我们业已改进了32-Gb/s N4960A 串行BERT 系列的上升/下降时间,从而为高速元器件设计人员提供所需的信号保真度和设计余量,以进行下一代器件测试。”

作为N4960A BERT 系列的成员,新型码型发生器经过配置后,可通过电缆将测试前端连接到BERT 控制器。在该配置下,设计人员可将码型发生器置于被测器件附近,尽可能地缩短信号电缆的长度,从而最大程度地避免信号劣化。